ကြိမ်နှုန်းမြင့် ထရန်စဖော်မာ၏ အူကြောင်းကို မည်သို့သိရှိနိုင်မည်နည်း။ ကြိမ်နှုန်းမြင့် transformer ၏ core ကိုဝယ်သူများသည် grade နိမ့်ပစ္စည်းများဖြင့်ပြုလုပ်ထားသော core ကိုဝယ်ယူရန်ကြောက်ကြသည်။ ဒါဆို အူတိုင်ကို ဘယ်လိုရှာရမလဲ။ ၎င်းသည် core တစ်ခုအတွက် ထောက်လှမ်းမှုနည်းလမ်းအချို့ကို နားလည်ရန် လိုအပ်သည်။ကြိမ်နှုန်းမြင့် ထရန်စဖော်မာ.
ကြိမ်နှုန်းမြင့် transformer ၏ core ကို ရှာဖွေလိုပါက၊ core အတွက် အသုံးများသော ပစ္စည်းများ ကိုလည်း သိရန်လိုအပ်ပါသည်။ စိတ်ဝင်စားရင် ဝင်ကြည့်လို့ရပါတယ်။ အမျိုးအစားတွေ အများကြီးရှိပါတယ်။ပျော့ပျောင်းသောသံလိုက်သံလိုက်ဂုဏ်သတ္တိများကို တိုင်းတာရာတွင် အသုံးပြုသောပစ္စည်းများ။ ၎င်းတို့ကို နည်းလမ်းအမျိုးမျိုးဖြင့် အသုံးပြုထားသောကြောင့် တိုင်းတာရန် လိုအပ်သော ရှုပ်ထွေးသော ဘောင်များ များစွာရှိပါသည်။ သံလိုက်ဂုဏ်သတ္တိများကို တိုင်းတာခြင်း၏ အရေးကြီးဆုံးအပိုင်းဖြစ်သည့် ပါရာမီတာတစ်ခုစီအတွက် မတူညီသော တိုင်းတာမှုများနှင့် နည်းလမ်းများစွာရှိသည်။
DC သံလိုက်ဂုဏ်သတ္တိများကို တိုင်းတာခြင်း။
ကွဲပြားခြားနားသောပျော့ပျောင်းသောသံလိုက်ပစ္စည်းများသည်ပစ္စည်းအပေါ် မူတည်၍ စမ်းသပ်မှုလိုအပ်ချက်အမျိုးမျိုးရှိသည်။ လျှပ်စစ်သန့်စင်သောသံနှင့် ဆီလီကွန်သံမဏိများအတွက် အဓိကတိုင်းတာသည့်အရာများမှာ စံသံလိုက်စက်ကွင်းခွန်အား (B5၊ B10၊ B20၊ B50၊ B100 ကဲ့သို့) နှင့် အမြင့်ဆုံးသံလိုက်စိမ့်ဝင်နိုင်မှု μm နှင့် coercive force Hc တို့ဖြစ်သည်။ Permalloy နှင့် amorphous ကိုက်ညီမှုအတွက်၊ ၎င်းတို့သည် ကနဦးသံလိုက်စိမ့်ဝင်နိုင်မှု μi၊ အမြင့်ဆုံးသံလိုက်စိမ့်ဝင်နိုင်မှု μm၊ Bs နှင့် Br တို့ကို တိုင်းတာသည်။ နေစဉ်ပျော့ပျောင်းသော ferriteµi ၊μm ၊Bs နှင့် Br စသည်တို့ကို တိုင်းတာသည်။ အပိတ်ပတ်လမ်းအခြေအနေများအောက်တွင် ကျွန်ုပ်တို့သည် ဤပစ္စည်းများကို မည်မျှအသုံးပြုသည်ကို ထိန်းချုပ်နိုင်သည် (အချို့သောပစ္စည်းများကို open-circuit နည်းလမ်းဖြင့် စမ်းသပ်သည်) ထင်ရှားပါသည်။ အသုံးအများဆုံးနည်းလမ်းများပါဝင်သည်-
(က) ထိခိုက်မှုနည်းလမ်း
ဆီလီကွန်သံမဏိအတွက်၊ Epstein စတုရန်းကွင်းများကိုအသုံးပြုသည်၊ သန့်စင်သောသံချောင်းများ၊ အားနည်းသောသံလိုက်ပစ္စည်းများနှင့် amorphous strips များကို solenoids များဖြင့်စမ်းသပ်နိုင်ပြီး၊ အပိတ်ပတ်လမ်းသံလိုက်ကွင်းများအဖြစ်လုပ်ဆောင်နိုင်သောအခြားနမူနာများကိုစမ်းသပ်နိုင်သည်။ စမ်းသပ်မှုနမူနာများကို ကြားနေအခြေအနေသို့ တင်းတင်းကျပ်ကျပ် demagnetized ပြုလုပ်ရန် လိုအပ်သည်။ စမ်းသပ်မှုအမှတ်တစ်ခုစီကို မှတ်တမ်းတင်ရန်အတွက် အချိုးကျ DC ပါဝါထောက်ပံ့မှုနှင့် သက်ရောက်မှု ဂယ်ဗန်နိုမီတာကို အသုံးပြုသည်။ သြဒီနိတ်စာရွက်ပေါ်တွင် Bi နှင့် Hi ကို တွက်ချက်ပြီး ပုံဆွဲခြင်းဖြင့်၊ သက်ဆိုင်ရာ သံလိုက်ပိုင်ဆိုင်မှု ဘောင်များကို ရယူသည်။ ၁၉၉၀ ပြည့်လွန်နှစ်များမတိုင်မီတွင် တွင်ကျယ်စွာအသုံးပြုခဲ့သည်။ ထုတ်လုပ်သည့်တူရိယာများမှာ CC1၊ CC2 နှင့် CC4 တို့ဖြစ်သည်။ ဤကိရိယာအမျိုးအစားတွင် ဂန္ထဝင်စမ်းသပ်နည်း၊ တည်ငြိမ်ပြီး ယုံကြည်စိတ်ချရသော စမ်းသပ်မှု၊ စျေးသက်သာသော တူရိယာစျေးနှုန်းနှင့် ပြုပြင်ထိန်းသိမ်းရလွယ်ကူသည်။ အားနည်းချက်များမှာ- စမ်းသပ်သူများ၏ လိုအပ်ချက်များမှာ အလွန်မြင့်မားပြီး၊ တစ်ချက်ချင်းစမ်းသပ်ခြင်း၏ အလုပ်သည် အလွန်ခက်ခဲသည်၊ အရှိန်နှေးသည်၊ ပဲမျိုးစုံ၏ ချက်ချင်းမဟုတ်သော အချိန်အမှားကို ကျော်လွှားရန် ခက်ခဲပါသည်။
(ခ) Coercivity meter နည်းလမ်း-
၎င်းသည် ပစ္စည်း၏ Hcj ကန့်သတ်ချက်ကိုသာ တိုင်းတာသည့် သန့်စင်သောသံချောင်းများအတွက် အထူးဒီဇိုင်းထုတ်ထားသော တိုင်းတာခြင်းနည်းလမ်းဖြစ်သည်။ စမ်းသပ်မြို့သည် နမူနာကို ဦးစွာ ပြည့်ဝစေပြီး သံလိုက်စက်ကွင်းကို ပြောင်းပြန်လှန်သည်။ သံလိုက်စက်ကွင်းတစ်ခုအောက်တွင်၊ ကာစ်ကွိုင် သို့မဟုတ် နမူနာအား ဆိုလီနွိုက်မှ ဖယ်ထုတ်သည်။ ဤအချိန်တွင် ပြင်ပသက်ရောက်မှု galvanometer သည် ကွဲလွဲမှုမရှိပါက၊ သက်ဆိုင်ရာ ပြောင်းပြန်သံလိုက်စက်ကွင်းသည် နမူနာ၏ Hcj ဖြစ်သည်။ ဤတိုင်းတာမှုနည်းလမ်းသည် ပစ္စည်း၏ Hcj ကို အလွန်ကောင်းမွန်စွာ တိုင်းတာနိုင်ပြီး သေးငယ်သော စက်ကိရိယာ ရင်းနှီးမြုပ်နှံမှု၊ လက်တွေ့ကျပြီး ပစ္စည်း၏ ပုံသဏ္ဍာန်အတွက် လိုအပ်ချက်မရှိပေ။
(ဂ) DC hysteresis စက်ဝိုင်းတူရိယာနည်းလမ်း-
စမ်းသပ်မှုနိယာမသည် အမြဲတမ်းသံလိုက်ပစ္စည်းများ၏ hysteresis စက်ဝိုင်း၏ တိုင်းတာမှုနိယာမနှင့် တူညီသည်။ အဓိကအားဖြင့်၊ photoelectric amplification mutual inductor integration၊ resistance-capacitance integration၊ Vf conversion integration နှင့် electronic sampling integration ကဲ့သို့သော ပုံစံအမျိုးမျိုးကို လက်ခံနိုင်သော integrator တွင် ပိုမိုကောင်းမွန်သော အားထုတ်မှုများ ပြုလုပ်ရန်လိုအပ်ပါသည်။ အိမ်တွင်းစက်ကိရိယာများပါဝင်သည်- Shanghai Sibiao စက်ရုံမှ CL1၊ CL6-1၊ CL13၊ နိုင်ငံခြားသုံးပစ္စည်းများတွင် Yokogawa 3257၊ LDJ AMH401 စသည်တို့ ပါဝင်ပါသည်။ နှိုင်းရအားဖြင့်ပြောရလျှင် နိုင်ငံခြားပေါင်းစည်းမှုအဆင့်သည် ပြည်တွင်းစက်များထက် များစွာမြင့်မားနေပြီး B-speed တုံ့ပြန်ချက်၏ ထိန်းချုပ်မှုတိကျမှုမှာလည်း အလွန်မြင့်မားပါသည်။ ဤနည်းလမ်းသည် လျင်မြန်သော စမ်းသပ်မှုအမြန်နှုန်း၊ အလိုလိုသိသောရလဒ်များပါရှိပြီး အသုံးပြုရလွယ်ကူသည်။ အားနည်းချက်မှာ µi နှင့် μm ၏ စမ်းသပ်မှုဒေတာများသည် ယေဘုယျအားဖြင့် 20% ထက်ကျော်လွန်နေခြင်းကြောင့်ဖြစ်သည်။
(ဃ) သရုပ်သကန်အကျိုးသက်ရောက်မှုနည်းလမ်း-
၎င်းသည် လက်ရှိတွင် ပျော့ပျောင်းသော သံလိုက် DC လက္ခဏာများကို စမ်းသပ်ရန်အတွက် အကောင်းဆုံး စမ်းသပ်နည်းဖြစ်သည်။ ၎င်းသည် အတုအယောင်အကျိုးသက်ရောက်မှုနည်းလမ်း၏ မရှိမဖြစ်လိုအပ်သော ကွန်ပြူတာပုံတူနည်းဖြစ်သည်။ ဤနည်းလမ်းကို China Academy of Metrology နှင့် Loudi Institute of Electronics မှ 1990 ခုနှစ်တွင် ပူးပေါင်းတီထွင်ခဲ့သည်။ ထုတ်ကုန်များတွင် MATS-2000 သံလိုက်ပစ္စည်း တိုင်းကိရိယာ (ဆက်မလုပ်တော့ပါ)၊ NIM-2000D သံလိုက်ပစ္စည်းတိုင်းကိရိယာ (Metrology Institute) နှင့် TYU-2000D ပျော့ပျောင်းသော သံလိုက် DC အလိုအလျောက်တိုင်းတာရေးကိရိယာ (Tianyu Electronics)။ ဤတိုင်းတာခြင်းနည်းလမ်းသည် တိုင်းတာခြင်းပတ်လမ်းဆီသို့ circuit ၏ဖြတ်ကျော်ဝင်ရောက်နှောင့်ယှက်မှုကို ရှောင်ရှားပြီး၊ integrator zero point ၏ ပျံ့လွင့်မှုကို ထိရောက်စွာ တားဆီးပေးသည့်အပြင် စကင်ဖတ်စစ်ဆေးခြင်းလုပ်ဆောင်ချက်လည်း ပါဝင်သည်။
ပျော့ပျောင်းသော သံလိုက်ပစ္စည်းများ၏ AC လက္ခဏာများကို တိုင်းတာခြင်းနည်းလမ်းများ
AC hysteresis စက်ဝိုင်းများကို တိုင်းတာသည့်နည်းလမ်းများတွင် oscilloscope နည်းလမ်း၊ ferromagnetometer နည်းလမ်း၊ နမူနာယူနည်း၊ ယာယီလှိုင်းပုံစံ သိုလှောင်မှုနည်းလမ်းနှင့် ကွန်ပျူတာထိန်းချုပ်ထားသော AC သံလိုက်လိုက်ခြင်း လက္ခဏာများ စမ်းသပ်သည့်နည်းလမ်းတို့ ပါဝင်သည်။ လက်ရှိတွင်၊ တရုတ်နိုင်ငံရှိ AC hysteresis ကွင်းများကို တိုင်းတာသည့်နည်းလမ်းများမှာ အဓိကအားဖြင့် oscilloscope method နှင့် computer-controlled AC magnetization features test method တို့ဖြစ်သည်။ oscilloscope နည်းလမ်းကို အဓိကအသုံးပြုသည့် ကုမ္ပဏီများတွင် Dajie Ande၊ Yanqin Nano နှင့် Zhuhai Gerun၊ ကွန်ပြူတာထိန်းချုပ်ထားသော AC သံလိုက်ချဲ့ခြင်းဆိုင်ရာ လက္ခဏာများ စမ်းသပ်သည့်နည်းလမ်းကို အသုံးပြုသည့် ကုမ္ပဏီများတွင် အဓိကအားဖြင့် China Institute of Metrology နှင့် Tianyu Electronics တို့ပါဝင်သည်။
(က) Oscilloscope နည်းလမ်း-
စမ်းသပ်မှုကြိမ်နှုန်းသည် 20Hz-1MHz ဖြစ်ပြီး၊ လည်ပတ်မှုအကြိမ်ရေသည် ကျယ်ပြန့်သည်၊ ပစ္စည်းကိရိယာများသည် ရိုးရှင်းပြီး လည်ပတ်မှုအဆင်ပြေသည်။ သို့သော် စမ်းသပ်မှု တိကျမှု နည်းပါးသည်။ စမ်းသပ်နည်းသည် မူလလက်ရှိနမူနာယူရန်မဟုတ်သော inductive resistor ကိုအသုံးပြုပြီး oscilloscope ၏ X ချန်နယ်သို့ ချိတ်ဆက်ကာ Y ချန်နယ်သည် RC ပေါင်းစပ်မှု သို့မဟုတ် Miller ပေါင်းစပ်ပြီးနောက် ဒုတိယဗို့အားအချက်ပြမှုနှင့် ချိတ်ဆက်ထားသည်။ BH မျဉ်းကွေးကို oscilloscope မှ တိုက်ရိုက်ကြည့်ရှုနိုင်သည်။ ဤနည်းလမ်းသည် တူညီသောပစ္စည်းကို နှိုင်းယှဉ်တိုင်းတာခြင်းအတွက် သင့်လျော်ပြီး စမ်းသပ်မှုအမြန်နှုန်းသည် မြန်ဆန်သော်လည်း ပစ္စည်း၏ သံလိုက်ဝိသေသ ဘောင်များကို တိကျစွာ မတိုင်းတာနိုင်ပါ။ ထို့အပြင်၊ ပေါင်းစပ်ကိန်းသေနှင့် ရွှဲရွှဲသံလိုက်လှိုင်းအား အပိတ်ကွင်းပိတ်မထိန်းချုပ်ထားသောကြောင့် BH မျဉ်းကွေးရှိ သက်ဆိုင်သောဘောင်များသည် ပစ္စည်း၏အချက်အလက်အစစ်အမှန်ကို ကိုယ်စားပြုနိုင်မည်မဟုတ်သည့်အပြင် နှိုင်းယှဉ်ရန်အတွက်အသုံးပြုနိုင်ပါသည်။
(ခ) Ferromagnetic တူရိယာနည်းလမ်း-
ferromagnetic တူရိယာနည်းလမ်းကို အိမ်တွင်း CL2 အမျိုးအစား တိုင်းတာသည့်ကိရိယာကဲ့သို့ vector meter method ဟုခေါ်သည်။ တိုင်းတာသည့် ကြိမ်နှုန်းမှာ 45Hz-1000Hz ဖြစ်သည်။ စက်ပစ္စည်းသည် ရိုးရှင်းသောဖွဲ့စည်းပုံရှိပြီး လည်ပတ်ရန်အတော်လေးလွယ်ကူသော်လည်း ပုံမှန်စမ်းသပ်မှုမျဉ်းကွေးများကိုသာ မှတ်တမ်းတင်နိုင်သည်။ ဒီဇိုင်းနိယာမသည် ဗို့အား သို့မဟုတ် လျှပ်စီးကြောင်း၏ ချက်ချင်းတန်ဖိုးအပြင် နှစ်ခု၏အဆင့်ကို တိုင်းတာရန် အဆင့်-အကဲဆတ်သော တည့်မတ်မှုကို အသုံးပြုကာ ပစ္စည်း၏ BH မျဉ်းကွေးကို ပုံဖော်ရန် အသံဖမ်းစက်ကို အသုံးပြုသည်။ Bt=U2au/4f*N2*S၊ Ht=Umax/l*f*M၊ M သည် အပြန်အလှန် inductance ဖြစ်သည်။
(ဂ) နမူနာပုံစံ-
နမူနာယူနည်းသည် မြန်နှုန်းမြင့်ပြောင်းလဲနေသော ဗို့အားအချက်ပြမှုကို တူညီသောလှိုင်းပုံသဏ္ဍာန်ရှိသော်လည်း အလွန်နှေးကွေးသောပြောင်းလဲမှုအမြန်နှုန်းဖြင့် မြန်နှုန်းမြင့်ဗို့အားအချက်ပြမှုအဖြစ်သို့ ပြောင်းလဲရန်အတွက် နမူနာအဖြစ်ပြောင်းလဲခြင်း circuit ကိုအသုံးပြုကာ နမူနာပြုလုပ်ရန်အတွက် low-speed AD ကိုအသုံးပြုသည်။ စမ်းသပ်မှုဒေတာသည် တိကျသော်လည်း စစ်ဆေးမှုကြိမ်နှုန်းသည် 20kHz အထိရှိပြီး သံလိုက်ပစ္စည်းများ၏ ကြိမ်နှုန်းမြင့်တိုင်းတာမှုတွင် လိုက်လျောညီထွေဖြစ်အောင်ရန် ခက်ခဲသည်။
(ဃ) AC သံလိုက်မှုလက္ခဏာများ စမ်းသပ်နည်း-
ဤနည်းလမ်းသည် ကွန်ပျူတာများ၏ ထိန်းချုပ်မှုနှင့် ဆော့ဖ်ဝဲလ်လုပ်ဆောင်နိုင်စွမ်းများကို အပြည့်အဝအသုံးပြုခြင်းဖြင့် တိုင်းတာခြင်းနည်းလမ်းဖြစ်ပြီး အနာဂတ်ထုတ်ကုန်ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှုအတွက် အရေးကြီးသော ဦးတည်ချက်တစ်ခုလည်းဖြစ်သည်။ ဒီဇိုင်းသည် ကွန်ပြူတာများနှင့် ကွင်းပိတ်ထိန်းချုပ်မှုအတွက် နမူနာလှည့်ကွက်များကို အသုံးပြုထားသောကြောင့် တိုင်းတာမှုတစ်ခုလုံးကို အလိုအလျောက်လုပ်ဆောင်နိုင်မည်ဖြစ်သည်။ တိုင်းတာမှုအခြေအနေများထည့်သွင်းပြီးသည်နှင့်၊ တိုင်းတာခြင်းလုပ်ငန်းစဉ်သည် အလိုအလျောက် ပြီးမြောက်ပြီး ထိန်းချုပ်မှုကို အလိုအလျောက်လုပ်ဆောင်နိုင်သည်။ တိုင်းတာခြင်းလုပ်ဆောင်ချက်သည် အလွန်အစွမ်းထက်ပြီး ပျော့ပျောင်းသော သံလိုက်ပစ္စည်းများ၏ ကန့်သတ်ချက်များအားလုံးကို တိကျစွာတိုင်းတာခြင်းနီးပါးကို ရရှိနိုင်သည်။
ဆောင်းပါးကို အင်တာနက်မှ ကူးယူဖော်ပြပါသည်။ ထပ်ဆင့်ပေးပို့ခြင်း၏ ရည်ရွယ်ချက်မှာ လူတိုင်းကို ပိုမိုကောင်းမွန်စွာ ပြောဆိုဆက်ဆံနိုင်စေရန်နှင့် လေ့လာသင်ယူနိုင်စေရန် ဖြစ်ပါသည်။
စာတိုက်အချိန်- သြဂုတ်-၂၃-၂၀၂၄